X熒光貴金屬鍍層測(cè)厚儀EDX600PLUS是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

詳情介紹

天瑞儀器X熒光貴金屬鍍層測(cè)厚儀 Thick800A X 熒光鍍層測(cè)厚儀是一款功能強(qiáng)大、儀器，以下是其詳細(xì)介紹1：

• 性能特點(diǎn)

• *定位測(cè)試：配備高移動(dòng)平臺(tái)，重復(fù)定位小于 0.005mm，可準(zhǔn)確定位測(cè)試點(diǎn)。采用高度定位激光，能自動(dòng)定位測(cè)試高度，通過定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊，還可通過鼠標(biāo)控制移動(dòng)平臺(tái)，點(diǎn)擊位置即為被測(cè)點(diǎn)，滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求。

• 微小測(cè)試點(diǎn)分析：φ0.1mm 的小孔準(zhǔn)直器可滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求。

• 高分辨率檢測(cè)：高分辨率探頭搭配高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器，使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。

• 安全防護(hù)完善：具有良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器可保護(hù)測(cè)試口不被樣品撞擊。

• X熒光貴金屬鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

• 元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）。

• 元素與鍍層分析能力：同時(shí)可分析 30 種以上元素，五層鍍層。

• 分析含量范圍：一般為 ppm 到 99.9%。

• 鍍層厚度測(cè)量范圍：一般在 50μm 以內(nèi)（每種材料有所不同）。

• 其他參數(shù)：溫度適應(yīng)范圍為 15℃至 30℃，電源為交流 220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸為 576 (W)×495 (D)×545 (H) mm，樣品室尺寸為 500 (W)×350 (D)×140 (H) mm，重量為 90kg。

• 應(yīng)用領(lǐng)域

• 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)、銀行、首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)、電鍍行業(yè)，可進(jìn)行黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)，以及金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。